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CODICE 61862
ANNO ACCADEMICO 2017/2018
CFU
SETTORE SCIENTIFICO DISCIPLINARE FIS/03
LINGUA Italiano
SEDE
PERIODO 2° Semestre
PROPEDEUTICITA
Propedeuticità in ingresso
Per sostenere l'esame di questo insegnamento è necessario aver sostenuto i seguenti esami:
  • FISICA 9012 (coorte 2016/2017)
  • FISICA DELLA MATERIA 2 61844 2016
  • FISICA TEORICA 61842 2016
  • METODI MATEMATICI DELLA FISICA 2 61843 2016
  • FISICA NUCLEARE, DELLE PARTICELLE E ASTROFISICA 2 61847 2016
  • FISICA 9012 (coorte 2017/2018)
  • FISICA DELLA MATERIA 2 61844 2017
  • FISICA TEORICA 61842 2017
  • METODI MATEMATICI DELLA FISICA 2 61843 2017
  • FISICA NUCLEARE, DELLE PARTICELLE E ASTROFISICA 2 61847 2017

PRESENTAZIONE

Il corso si propone di presentare le principali tecniche sperimentali per l’analisi delle proprietà morfologiche, chimiche, elettroniche e strutturali della materia su scala nanometrica, distinguendo fra tecniche per l’analisi della superficie e del volume. Esso consta di lezioni frontali corredate da attività in un laboratorio dedicato, oltre a visite presso vari laboratori di ricerca.

OBIETTIVI E CONTENUTI

OBIETTIVI FORMATIVI

Il corso si propone di presentare e sperimentare i principali metodi di investigazione a livello nanoscopico delle proprietà morfologiche-cristallografiche e spettroscopiche della materia sia nel volume che alla superficie.

OBIETTIVI FORMATIVI (DETTAGLIO) E RISULTATI DI APPRENDIMENTO

Il corso si prefigge i seguenti obiettivi:

  1. Fornire agli studenti una conoscenza di base delle tecniche più comuni per l’analisi delle proprietà morfologiche, strutturali, elettroniche e chimiche dei materiali (superficie e volume).
  2. Permettere agli studenti di famigliarizzare con alcuni di questi metodi di analisi mediante esperienza diretta in laboratorio o dimostrazioni pratiche effettuate da personale esperto.

Fornire una metodologia rudimentale per l’analisi, l’ interpretazione e la presentazione dei risultati sperimentali ottenuti, mediante compilazione di brevi relazioni scritte.

MODALITA' DIDATTICHE

Le lezioni frontali saranno corredate da attività di laboratorio su un apparato sperimentale dedicato e da visite presso laboratori universitari o del CNR per dimostrazioni pratiche di alcune delle tecniche di indagine discusse in classe. Si richiederanno brevi relazioni scritte dell’attività svolta in laboratorio.

PROGRAMMA/CONTENUTO

Introduzione alle tecnologie di vuoto.

Particelle sonda. Metodi di produzione e rilevazione.

Tecniche spettroscopiche per l’analisi di superfici ed interfacce: fotoemissione, spettroscopia Auger, spettroscopie vibrazionali.

Tecniche microscopiche: microscopie elettroniche (SEM, TEM) e a scansione di sonda (STM, AFM).

Tecniche diffrattive per l’analisi di superfici e volume: diffrazione di elettroni, diffrazione di raggi X, scattering di neutroni, scattering di atomi neutri.

TESTI/BIBLIOGRAFIA

Copia delle slides presentate a lezione sarà disponibile su aulaweb. Per la parte di spettroscopia, si consiglia il testo (disponibile in biblioteca):

P.H. Woodruff and T.A. Delchar, Modern Techniques of Surface Science, Cambridge University Press (1986)

Articoli di approfondimento su specifici argomenti trattati a lezione verranno resi disponibili durante il corso.

LEZIONI

INIZIO LEZIONI

Le lezioni si terranno nel secondo semestre dell’a.a. 2017/18

Orari delle lezioni

L'orario di questo insegnamento è consultabile all'indirizzo: Portale EasyAcademy

ESAMI

MODALITA' D'ESAME

L’esame consiste in un colloquio sugli argomenti trattati a lezione.