PRESENTAZIONE

Understanding the fundamentals of microscopy techniques and interrelated spectroscopies,  in investigation of  materials.

OBIETTIVI E CONTENUTI

OBIETTIVI FORMATIVI

Understanding the fundamentals of electron microscopies and energy dispersive x-ray spectroscopy, which permit the observation and characterization of heterogeneous organic and inorganic materials.

MODALITA' DIDATTICHE

lezioni frontali

PROGRAMMA/CONTENUTO

Scanning electron microscopy and microprobe: electron optics, electron beam - specimen interaction, signal detection, image formation, contrast types. EDX and WDX spectroscopy; qualitative and quantitative x-ray analysis.

Transmission electron microscopy: elastic and inelastic scattering phenomena. The microscope: the illumination system, the objective lens and stage, the imaging system. Introduction to the different types of contrast. Introduction to electron diffraction. Sample preparation techniques.

TESTI/BIBLIOGRAFIA

“Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis”, J.I. Goldstein, D.E. Newbury, P. Echlin, D.C. Joy, A.D. Romig, Jr., C.E. Lyman, C. Fiori, E. Lifshin, Plenum Press, 1992.

“Trasmission Electron Microscopy”, D.B. Williams and C.B. Carter, Plenum Press, 1996.

DOCENTI E COMMISSIONI

Commissione d'esame

PAOLA RIANI (Presidente)

ANDREA BASSO

GABRIELE CACCIAMANI

LEZIONI

INIZIO LEZIONI

Second semester

Orari delle lezioni

L'orario di questo insegnamento è consultabile all'indirizzo: Portale EasyAcademy

ESAMI

MODALITA' D'ESAME

Esame scritto

MODALITA' DI ACCERTAMENTO

Lo studente deve rispondere in forma scritta a 3 o 4 domande sugli argomenti trattati nel corso.

A richiesta dello studente, è possibile sostenere ANCHE un breve esame orale.

Calendario appelli