OBIETTIVI FORMATIVI

Understanding the fundamentals of electron microscopies and energy dispersive x-ray spectroscopy, which permit the observation and characterization of heterogeneous organic and inorganic materials.

OBIETTIVI FORMATIVI (DETTAGLIO) E RISULTATI DI APPRENDIMENTO

Comprensione dei fondamenti delle microscopie elettroniche e della spettroscopia a raggi X a dispersione di energia, che consentono l'osservazione e la caratterizzazione di materiali eterogenei, organici ed inorganici.

Al termine del corso lo studente avrà acquisito conoscenze teoriche sui microscopi (SEM e TEM)  che utilizzano come radiazione un fascio di elettroni; in particolare conoscerà il funzionamento dei singoli componenti della colonna ottica, i segnali generati in seguito alla interazione tra fascio elettronico e campione, come visualizzarli e come analizzarli.

Nella parte pratica gli studenti avranno modo di vedere come si opera sul SEM e sul TEM rispettivamente.

MODALITA' DIDATTICHE

Lezioni frontali in aula e 3 esercitazioni in laboratorio allo strumento (tipicamente una sessione al SEM, una al FESEM e una al TEM).

PROGRAMMA/CONTENUTO

Scanning electron microscopy and microprobe: electron optics, electron beam - specimen interaction, signal detection, image formation, contrast types. EDX and WDX spectroscopy; qualitative and quantitative x-ray analysis.

Transmission electron microscopy: elastic and inelastic scattering phenomena. The microscope: the illumination system, the objective lens and stage, the imaging system. Introduction to the different types of contrast. Introduction to electron diffraction. Sample preparation techniques.

TESTI/BIBLIOGRAFIA

“Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis”, J.I. Goldstein, D.E. Newbury, P. Echlin, D.C. Joy, A.D. Romig, Jr., C.E. Lyman, C. Fiori, E. Lifshin, Plenum Press, 1992.

“Trasmission Electron Microscopy”, D.B. Williams and C.B. Carter, Plenum Press, 1996.